ATE自动化测试系统
序列规划: 并行、批量、自动规划
语言适配: LabVIEW、C / C++、Python、.NET 语言
代码模块支持: EXE、DLL、ActiveX/COM、.NET等
硬件平台: PXI/PXIe
软件平台: Teststand
AI生成序列: 支持
描述语言: ATML
报告格式: XML、HTML、ASCII、PDF、CSV、JSON
流程控制: 循环、条件、汇聚、延时、并行等
关键词：PCB、ATE、自动化测试、Teststand、LabVIEW、C#、PXI系统
概述：基于模块化仪器、自动化测试软件架构及标准化接口技术，构建电子设备自动化测试与验证系统，实现测试流程、测试设备、测试数据及测试报告的一体化管理。系统支持测试序列编排、自动测试执行、仪器自动控制、数据采集分析、结果判定与报告生成；通过硬件抽象层（HAL）实现仪器、开关/接口、夹具及被测对象（DUT）的统一管理与解耦，提升测试效率、测试一致性和系统扩展能力。
应用方向：适用于电子设备在研发阶段的自动化测试验证，以及小批量产品的自动化出厂测试场景，尤其适合测试项多、测试流程重复性强、测试数据需记录追溯及测试一致性要求较高的应用。
关键技术
- 自动化测试系统架构技术，支撑研发验证与小批量出厂测试系统快速构建
- 测试序列与流程管理技术，提升测试流程自动化、一致性与可追溯性
- 硬件设备抽象层（HAL）设计技术，降低硬件更换成本，提升系统复用能力
